黃仁勛稱Blackwell芯片曾存在設(shè)計(jì)缺陷：靠臺(tái)積電力挽狂瀾！
體育資訊10月23日?qǐng)?bào)道宣稱 英偉達(dá) CEO 黃仁勛于當(dāng)?shù)貢r(shí)間周三在訪問(wèn)丹麥時(shí)表示：該公司最新的 Blackwell 芯片曾存在設(shè)計(jì)缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低。”他還
2024-10-23
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